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您的位置: 首页 ->  常见问题 -> 射频端子接触不良怎样检测比较高效
  一般而言,射频端子接触不良的检测主要有瞬断检测、单孔分离力检测、导通检测三种有效方法,具体如下:
  第一、瞬断检测
  有些接线端子是在动态振动环境下使用的。实验证明仅用检验静态接触电阻是否合格,并不能保证动态环境下使用接触可靠。因为,往往接触电阻合格的连接器在进行振动,冲击等模拟环境试验时仍出现瞬间断电现象,故对一些高可靠性要求的接线端子,希望能100%对其进行动态振动试验考核其接触可靠性。
  第二、单孔分离力检测
  单孔分离力是指插合状态的接触件由静止变为运动的分离力,用来表征插针和插孔正在接触。实验表明:单孔分离力过小,在受振动、冲击载荷时有可能造成信号瞬断。用测单孔分离力的方法检查接触可靠性比测接触电阻有效。检查发现单孔分离力超差的插孔,测量接触电阻往往仍合格。
  第三、导通检测
  目前,一般大电流接线端子生产厂家产品验收试验无此项目,而用户装机后一般均需要进行导通检测。因此建议生产厂家对一些看好的型号的产品应该增加100%的逐点导通检测。

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